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有哪些情况可能导致产品IK测试不通过?

更新时间:2024-12-20 14:30:07
价格:请来电询价
检测公司:中鉴检测CCTI
可靠性测试项目:IK防碰撞试验
测试周期:看具体产品定
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详细介绍

外壳材料问题

    • 材料强度不足:如果产品外壳材料的强度不够,在受到规定的冲击能量时,就容易出现破裂、变形等情况。例如,一些塑料外壳产品使用了低强度的通用塑料,而不是具有较高抗冲击性的工程塑料。当进行 IK 测试时,可能在较低的冲击能量下,外壳就会出现裂缝,导致测试不通过。

    • 材料韧性差:韧性差的材料在受到冲击时,无法有效地吸收和分散能量。像一些脆性材料,如某些玻璃材质的外壳,受到冲击后很容易破碎,难以承受 IK 测试规定的碰撞能量。

产品设计缺陷

    • 结构不合理:产品的内部和外部结构设计对于抗碰撞能力至关重要。如果内部结构没有合理地分布和固定零部件,在受到冲击时,内部零件容易相互碰撞、移位或损坏。例如,在一些电子设备中,电路板上的元件如果没有足够的间隔或者固定措施,在受到冲击时就可能会相互碰撞而损坏。

    • 应力集中点:产品设计中存在应力集中的部位,如尖锐的边角、厚度突变的区域等。在冲击过程中,应力会在这些点集中,导致局部的变形或损坏。例如,一个金属外壳产品在边角处没有进行适当的圆角处理,冲击时边角就容易折断。

制造工艺不佳

    • 外壳成型质量差:如果外壳在制造过程中,如注塑、压铸等成型工艺存在问题,可能会导致外壳有气泡、缩孔、分层等缺陷。这些缺陷会降低外壳的整体强度,使其在 IK 测试中容易损坏。例如,注塑成型的外壳如果有气泡,在受到冲击时,气泡处就可能成为破裂的起始点。

    • 零件装配不牢固:产品内部零件的装配工艺也会影响其抗碰撞能力。如果零件之间的连接方式(如螺丝固定、卡扣连接等)不牢固,在受到冲击时,零件可能会松动、脱落。例如,用螺丝固定的电路板,如果螺丝没有拧紧,在冲击过程中电路板就可能会晃动,导致元件损坏或连接线路断开。

产品尺寸和重量因素

    • 尺寸过大或过小:对于一些大型产品,由于其自身尺寸较大,在受到冲击时,产生的弯矩和扭矩也较大,可能会导致产品整体变形或损坏。相反,一些过小的产品可能由于内部空间有限,无法合理地设计缓冲结构或固定部件,也会影响其抗碰撞性能。例如,大型的工业控制柜,如果外壳的加强结构设计不合理,在受到侧面冲击时,可能会因为尺寸大而产生较大的变形。

    • 重量分布不均匀:产品重量分布不均匀会影响其在受到冲击时的稳定性和能量吸收情况。如果产品的重心偏移,在冲击过程中更容易发生倾倒或局部受力过大的情况。例如,一个带有大型电池组的设备,如果电池组集中在一侧,在受到冲击时,重心偏向电池组一侧的部分就更容易损坏。

测试标准不匹配或测试参数设置不当

    • 选择的测试标准过高或过低:如果企业错误地选择了不符合产品实际使用环境和性能要求的 IK 测试标准,可能会导致测试不通过。例如,将一个普通家用电子设备按照工业级的高 IK 等级标准进行测试,产品可能无法承受相应的冲击能量。

    • 冲击能量、次数或位置设置错误:在测试过程中,如果冲击能量超过产品设计的承受范围、冲击次数过多或者冲击位置选择不当(如总是冲击产品蕞薄弱的部位),也会导致产品测试不通过。例如,在测试一个有防护加强的产品时,没有按照标准要求的各个面均匀冲击,而是多次冲击其没有防护的侧面,可能会使产品在测试中损坏。




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