IK防碰撞试验和跌落测试有什么区别？

试验目的侧重点不同

• IK 防碰撞试验：主要侧重于评估产品外壳对机械碰撞的防护能力。其重点是测试产品在受到外界物体撞击时，外壳是否能够有效保护内部部件，防止产品因碰撞而损坏，确保产品的机械安全性。例如，在工业环境中，设备可能会被工具、运输车辆或者人员碰撞，IK 试验就是模拟这些碰撞场景，检验产品的抗撞击性能。

• 跌落测试：主要是模拟产品在使用过程中意外掉落的情况。它关注的是产品从一定高度自由落体到地面或其他表面后，其外观和功能是否依然完好。比如手机、平板电脑等手持设备，在日常使用中可能会从手中、桌面或者口袋里掉落，跌落测试就是为了检验这些产品在这种情况下的可靠性。

试验方式和参数不同

• 试验方式：

• IK 防碰撞试验：通常使用一个规定质量的冲击锤，从一定高度自由落体冲击设备外壳的规定位置，如设备的面、棱、角等容易受到碰撞的部位。这种方式是模拟一个集中的、局部的撞击力。

• 跌落测试：是将产品从规定的高度自由跌落到特定的表面（如混凝土、钢板或模拟实际使用环境的其他表面），产品在跌落过程中是整体受到冲击力，而且跌落的姿态（如垂直跌落、倾斜跌落等）可能会有所不同，这会导致冲击力在产品上的分布比较复杂。

• 试验参数：

• IK 防碰撞试验：关键参数是冲击锤的质量、冲击高度（用于计算冲击能量）以及冲击的位置和次数。例如，按照 IEC 62262 标准，不同的 IK 等级对应不同的冲击能量，从 IK01 的 0.14J 到 IK10 的 20J 不等。

• 跌落测试：主要参数是跌落高度、跌落次数和跌落角度。不同产品的跌落高度可能不同，一般根据产品的使用场景和重量来确定。例如，手持小型电子产品的跌落高度可能在 1 - 1.5 米左右，而大型设备的跌落高度可能会根据实际情况另行设定。跌落次数通常是多次重复，以充分检验产品在不同跌落情况下的性能。

对产品影响的表现形式不同

• IK 防碰撞试验：由于是局部撞击，产品在试验后可能出现局部的外壳凹陷、破裂或者变形，内部零件可能会因为局部冲击力而松动、损坏或者移位。例如，在 IK 试验后，设备外壳的撞击点附近可能会出现小范围的破损，导致内部电路板上的元件受到挤压而损坏。

• 跌落测试：产品受到的是整体冲击力，可能会出现外壳整体变形、破裂，内部零件的松动、脱落或者损坏情况可能会比较分散。例如，产品在跌落时某个角落先着地，可能会导致该角落附近的零件损坏，同时由于冲击力的传递，其他部位的零件也可能会受到影响。另外，产品的功能在跌落测试后可能会出现整体失效，如电子设备无法开机、通信设备信号传输中断等情况。