测试目的：确保手机 SIM 卡托在日常插拔过程中，插拔力合适，既能方便用户插拔，又能保证卡托与手机内部读卡器的良好接触，防止因插拔力不当导致卡托损坏或读卡器故障。

测试过程：在标准的实验室环境下，将手机 SIM 卡托安装在特制的夹具上，夹具模拟手机内部的卡托插槽结构。使用高精度的插拔力测试设备，以不同的插拔速度（如 10mm/s、20mm/s 等）进行插拔力测试，每种速度下进行 50 次插拔循环。在测试过程中，测量并记录每次插拔的插入力和拔出力，同时观察卡托和夹具的接触情况以及卡托的外观有无损坏。

测试结果与改进措施：若插入力过大，用户在插拔 SIM 卡托时会感到困难，甚至可能损坏卡托或手机卡槽；拔出力过小则可能导致卡托在使用过程中容易松动弹出。通过测试，如果发现插拔力不符合要求，手机制造商可能会对卡托的尺寸、形状进行微调，或者对卡槽内部的弹性结构进行优化，以使插拔力达到合适的范围。例如，通过调整卡托的倒角、增加卡槽内部弹片的弹性等方式来改善插拔力性能。