项目介绍

HAST老化测试广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命

测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系

统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么

样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。

HAST老化测试目的

为了提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，因此用

来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。